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NI發(fā)布“2009年自動(dòng)化測試領(lǐng)域的發(fā)展趨勢”


時(shí)間:2009-8-21
 

30多年來,作為測試測量行業(yè)的創(chuàng)新者和虛擬儀器技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)者,National Instruments一直致力于為工程師和科學(xué)家們提供一個(gè)通用的軟硬件平臺,用于科技應(yīng)用和工程創(chuàng)新。伴隨著測試需求的多樣化和復(fù)雜化,這種以軟件為核心的測試策略正逐漸成為行業(yè)主流的技術(shù),并得到廣泛的應(yīng)用,在提高效率的同時(shí)降低測試成本。在新興商業(yè)技術(shù)不斷涌現(xiàn)的今天和未來,測試測量行業(yè)正呈現(xiàn)出五個(gè)重要的發(fā)展方向。

趨勢一:軟件定義的儀器系統(tǒng)成為主流

如今的電子產(chǎn)品(像iPhone和Wii等)已越來越依重于軟件去定義產(chǎn)品的功能。同樣的,在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和客戶需求日益復(fù)雜的今天,用于測試測量的儀器系統(tǒng)也朝著以軟件為核心的模塊化方向發(fā)展,使得用戶能夠更快更靈活的將測試集成到設(shè)計(jì)過程中去,進(jìn)一步減少了開發(fā)時(shí)間。

趨勢二:多核/并行測試帶來機(jī)遇和挑戰(zhàn)

多核時(shí)代的來臨已成為不可避免的發(fā)展趨勢,雙核乃至八核的商用PC現(xiàn)在已隨處可見。得益于PC架構(gòu)的軟件定義的儀器,用戶可以在第一時(shí)間享受到多核處理器為自動(dòng)化測試應(yīng)用帶來的巨大性能提升。

趨勢三:基于FPGA的自定義儀器將更為流行

隨著設(shè)計(jì)和測試的要求越來越高,F(xiàn)PGA(現(xiàn)場可編程門陣列)技術(shù)正逐漸被引入到最新的模塊化儀器中,這也就是我們所說的基于FPGA的自定義儀器。

趨勢四:無線標(biāo)準(zhǔn)測試的爆炸性增長

近年來無線通信標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展可謂是日新月異,從2000年前只有四五種的無線標(biāo)準(zhǔn)到現(xiàn)在眾多新標(biāo)準(zhǔn)如雨后春筍般涌現(xiàn)。越來越多的消費(fèi)電子產(chǎn)品和工業(yè)產(chǎn)品都或多或少的集成了無線通信的功能,像蘋果公司最新的3G版iPhone手機(jī),更是同時(shí)集成了UMTS, HSDPA, GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和藍(lán)牙等多種最新的無線標(biāo)準(zhǔn)。這些都給無線技術(shù)的開發(fā)和測試帶來了巨大的挑戰(zhàn),測試技術(shù)如何跟上無線技術(shù)的發(fā)展成為工程師面臨的最大難題。通常傳統(tǒng)射頻儀器的購買周期是5至7年,而新標(biāo)準(zhǔn)和新技術(shù)的推出周期卻是每兩年一輪,購買的射頻測試設(shè)備由于其固件和功能的限定通常難以跟上新標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展速度。

趨勢五:協(xié)議感知(Protocol-Aware)ATE將影響半導(dǎo)體的測試

如今的半導(dǎo)體器件變得愈加的復(fù)雜,高級的片上系統(tǒng)(SoC)和封裝系統(tǒng)(SiP)相比典型的基于矢量的器件測試而言,需要更為復(fù)雜的系統(tǒng)級的功能測試,F(xiàn)在器件的功能也不再是通過簡單的并行數(shù)字接口實(shí)現(xiàn),而是更多的依賴于高速串行總線和無線協(xié)議進(jìn)行輸出,這就要求測試設(shè)備和器件之間能夠在指定的時(shí)鐘周期內(nèi)完成高速的激勵(lì)和響應(yīng)測試。

 
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