高低溫沖擊箱有兩個(gè)獨(dú)立溫度箱，兩廂式高低溫試驗(yàn)箱試件可以通過(guò)氣動(dòng)提籃在各個(gè)溫度箱內(nèi)傳送，從而達(dá)到最快的溫變速率。兩廂式高低溫試驗(yàn)箱試件不動(dòng)。通過(guò)氣缸控制高低溫區(qū)的箱門(mén)達(dá)到溫度沖擊之試驗(yàn)過(guò)程。

塑封高低溫沖擊箱失效現(xiàn)象常態(tài)：

1、在硅片上集成有大量電子元件的集成電路芯片及其元件通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)連接起來(lái)構(gòu)成電路。由于鋁和鋁合金價(jià)格便宜，加工工藝簡(jiǎn)單，因此通常被使用為集成電路的金屬線(xiàn)。

2、從進(jìn)行集成電路塑封工序開(kāi)始，水氣便會(huì)通過(guò)環(huán)氧樹(shù)脂滲入引起鋁金屬導(dǎo)線(xiàn)產(chǎn)生腐蝕進(jìn)而產(chǎn)生開(kāi)路現(xiàn)象，成為品質(zhì)工程最為頭痛的問(wèn)題。人們雖然通過(guò)各種改善包括采用不同環(huán)氧樹(shù)脂材料、改進(jìn)塑封技術(shù)和提高非活性塑封膜為提高產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行了各種努力，但是隨著日新月異的半導(dǎo)體電子器件小型化發(fā)展，塑封鋁金屬導(dǎo)線(xiàn)腐蝕問(wèn)題至今仍然是電子行業(yè)非常重要的技術(shù)課題。

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	熱點(diǎn)問(wèn)題

什么是冷熱沖擊試驗(yàn)箱（機(jī)）

哪位有冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

溫度沖擊試驗(yàn)箱有哪幾大件組成？

溫度沖擊試驗(yàn)是什么

冷熱沖擊試驗(yàn)箱和溫度循環(huán)試驗(yàn)箱的區(qū)別在哪里？

冷熱沖擊試驗(yàn)箱要滿(mǎn)足那些國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)？